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電子顯微鏡觀察
電子顯微鏡是一種高端科研儀器,通過其強大的放大功能,可以幫助科學家觀察微觀世界中的細微結構。在科研領域和工業生產中,電子顯微鏡扮演著重要的角色。
檢測范圍
電子顯微鏡廣泛應用于材料科學、生命科學、地質學等領域。可以觀察到的樣本范圍非常廣泛,包括金屬材料、纖維、生物細胞,甚至是納米級顆粒。
檢測項目分類
在電子顯微鏡觀察中,常見的檢測項目包括:
1. 表面形貌的觀察:觀察材料表面的微觀結構,探測表面缺陷和污染。
2. 成分分析:通過能譜儀器,分析樣品成分的組成,了解材料的化學成分。
3. 結構分析:觀察材料的晶體結構、晶粒取向等,研究材料的內部結構。
檢測方法和檢測儀器
電子顯微鏡主要有透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)兩種。透射電子顯微鏡可以提供更高分辨率的像,適用于觀察材料內部結構;掃描電子顯微鏡則適合表面形貌觀察。
在進行檢測時,科研人員可以通過電子顯微鏡觀察樣品,并利用連接的能譜儀器,進行成分分析。這樣一來,即可清晰地觀察樣品的微觀結構,又可了解其成分組成,實現全面的分析。
服務優勢
電子顯微鏡觀察具有高分辨率、高清晰度、廣泛適用等優勢。能夠幫助科研人員在材料研究、生物學研究等領域取得更加準確的數據,促進科學研究的進展。
電子顯微鏡觀察標準列舉
JJD 1016-1991 透射電子顯微鏡
JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡 校準規范
JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
JJG (地質) 1016-1990 透射電子顯微鏡檢定規程
JY/T 0581-2020 透射電子顯微鏡分析方法通則
SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
JJG (教委) 011-1996 透射電子顯微鏡檢定規程Verification Regulation for transmission electron microscope
DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準方法Calibration method of magnification of scanning electron microscope
DB31/T 315-2004 透射電子顯微鏡放大倍率校準方法Calibration method of magnification of transmission electron microscope
JJG (教委) 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡檢定規程Verification Regulation for analytical scanning electron microscope
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GB/T 18295-2001 油氣儲層砂巖樣品 掃描電子顯微鏡分析方法Analysis method of sandstone sample of petroleum and gas reservoir by scanning electron microscope
YB/T 4676-2018 鋼中析出相的分析 透射電子顯微鏡法
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