因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

穩(wěn)流二極管的核心檢測(cè)項(xiàng)目分為電氣特性驗(yàn)證與可靠性驗(yàn)證兩大類別：

基礎(chǔ)電氣參數(shù)：正向?qū)▔航担╒F）、反向擊穿電壓（VBR）、動(dòng)態(tài)阻抗（Zt）

溫度特性參數(shù)：溫度系數(shù)（TC）、熱阻（RθJA）、結(jié)溫耐受能力

極限工作參數(shù)：最大持續(xù)工作電流（IO(max)）、脈沖電流承載能力

長(zhǎng)期穩(wěn)定性指標(biāo)：電流漂移率、老化衰減系數(shù)

環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證：高低溫循環(huán)試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、機(jī)械振動(dòng)測(cè)試

檢測(cè)范圍

檢測(cè)方法

正向特性測(cè)試規(guī)程

采用四線制測(cè)量法消除引線電阻影響

設(shè)置階梯式電流加載程序（0.1IO~1.5IO）

記錄各電流點(diǎn)對(duì)應(yīng)的VF值并繪制特性曲線

動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)定方法

使用頻率1kHz的正弦波疊加直流偏置

通過(guò)LCR表測(cè)量交流阻抗分量Zac

計(jì)算微分電阻值rd=ΔV/ΔI

溫度特性試驗(yàn)流程

在溫控箱內(nèi)進(jìn)行-55℃~+150℃五點(diǎn)循環(huán)測(cè)試

每個(gè)溫度點(diǎn)恒溫30分鐘后執(zhí)行參數(shù)測(cè)量

計(jì)算溫度系數(shù)TC=(ΔVF/ΔT)/VF(25℃)×10^6（ppm/℃）

加速老化試驗(yàn)方案

施加1.2倍額定電流進(jìn)行1000小時(shí)持續(xù)老化

每24小時(shí)記錄VF變化量及表面溫升數(shù)據(jù)

通過(guò)阿倫尼烏斯方程推算器件壽命特征值

失效模式分析技術(shù)

采用紅外熱成像定位熱點(diǎn)區(qū)域

結(jié)合SEM/EDS進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)分析

執(zhí)行X射線斷層掃描檢查封裝完整性

檢測(cè)儀器

SMU數(shù)字源表

- Keysight B2900A系列：提供pA級(jí)電流分辨率與μV級(jí)電壓精度

- Tektronix Keithley 2600B系列：支持四象限工作模式與高速脈沖測(cè)試

高低溫試驗(yàn)箱

- ESPEC T系列：溫度變化速率≥5℃/min

- Weiss Technik VTS系列：支持-70℃~+180℃寬溫域控制

阻抗分析儀

- Hioki IM3590：頻率范圍10Hz~200MHz

- Keysight E4990A：基本精度±0.045%

失效分析系統(tǒng)

- Thermo Fisher Scios 2 DualBeam：集成FIB-SEM聯(lián)用功能

- Bruker ContourGT-X3：三維光學(xué)輪廓測(cè)量

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

- National Instruments PXIe-4082：同步采樣率1.8MS/s

- Yokogawa WT5000：功率分析精度±0.03%

ESS測(cè)試系統(tǒng)

- Thermotron F4系列：六自由度振動(dòng)臺(tái)

- CSZ Z-Plus系列：復(fù)合環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)箱

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說(shuō)明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件