中析研究所檢測中心
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中科光析科學技術研究所
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發布時間:2025-04-10
關鍵詞:云母電容檢測周期,云母電容檢測標準,云母電容試驗儀器
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來源:北京中科光析科學技術研究所
因業務調整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
云母電容的核心檢測項目包括以下七類:
電容量偏差:實測值與標稱值的允許誤差范圍(±1%~±20%)
耐壓強度:直流/交流擊穿電壓測試(1.5~3倍額定電壓)
損耗角正切(tanδ):高頻下介質損耗特性(≤0.002@1MHz)
絕緣電阻:極間電阻值(≥10GΩ·μF)
溫度特性:-55℃~+125℃環境下的容量變化率(≤±0.5%)
頻率特性:1kHz~100MHz范圍內的容量穩定性
機械耐久性:振動/沖擊試驗后的參數漂移量
檢測對象涵蓋以下四類云母電容:
分類維度 | 具體類型 |
---|---|
封裝形式 | 模壓型/金屬殼封裝/環氧包封 |
電極結構 | 箔式電極/被銀電極/金屬化電極 |
應用場景 | 高頻電路/脈沖電路/濾波電路/諧振電路 |
特殊性能 | 高Q值型/耐高溫型/超穩定型 |
采用四端對LCR表在23±2℃環境下進行測量:
1. 預置測試頻率(1kHz/1MHz)
2. 施加0.5Vrms測試信號
3. 自動補償引線電感誤差
4. 三次測量取平均值
直流耐壓測試流程:
1. 以100V/s速率升壓至規定值
2. 保持60±5秒
3. 漏電流閾值設定為5μA
4. 記錄擊穿電壓及泄漏電流曲線
-55℃?+125℃交變試驗:
1. 每個溫區保持30分鐘
2. 轉換時間≤5分鐘
3. 完成10次循環后
4. 恢復4小時測量參數漂移量
儀器類型 | 技術指標 | 應用場景 |
---|---|---|
精密LCR表 | 0.05%基本精度 1MHz測試頻率 四端對接口 | 電容量/損耗因數測量 |
耐壓測試儀 | 0~5kV可調 分辨率0.1μA ARC保護功能 | 絕緣強度驗證 |
高低溫試驗箱 | -70℃~+180℃ ±0.5℃控溫精度 快速溫變功能 | 溫度特性評估 |
頻譜分析儀 | 9kHz~3GHz -120dBc動態范圍 TDR時域反射功能 | 高頻特性分析 |
x射線測厚儀 | 5μm分辨率 多層結構解析功能 | 內部結構缺陷檢測 |
*所有儀器均需定期通過CNAS認可的計量機構進行校準,確保測量結果符合ISO/IEC 17025標準要求。
1、咨詢:提品資料(說明書、規格書等)
2、確認檢測用途及項目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品,安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關數據,編寫報告草件,確認信息是否無誤
7、確認完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件