中析研究所檢測中心
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中科光析科學技術研究所
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發布時間:2025-04-03
關鍵詞:磨料檢測周期,磨料檢測機構,磨料試驗儀器
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來源:北京中科光析科學技術研究所
因業務調整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
通過激光衍射法測定磨料顆粒的粒徑分布曲線,建立D10/D50/D90特征值數據庫。重點監控粗粒超標導致的加工表面劃痕風險及細粒不足引起的切削效率下降問題。
采用X射線熒光光譜法(XRF)測定Al?O?、SiC等主成分含量及Fe?O?、TiO?等雜質元素比例。碳化硅磨料需額外檢測游離碳含量(≤0.25%),剛玉系磨料重點控制Na?O含量(≤0.6%)。
依據ASTM E384標準進行維氏硬度(HV)測定,金剛石微粉要求HV≥8000kgf/mm2,立方氮化硼(CBN)磨料典型值在4500-5000kgf/mm2區間。
使用標準漏斗法測量單位體積質量密度(g/cm3),剛玉砂輪用白剛玉要求≥1.95g/cm3,綠碳化硅磨料需≥2.15g/cm3。
采用磁選分離-重量分析法測定鐵磁性雜質占比(≤0.05%),防止金屬雜質在精密加工中引發工件污染。
使用萬能材料試驗機進行單顆粒破碎強度測試(N/粒),樹脂砂輪用棕剛玉顆粒要求≥25N/粒。
涵蓋白剛玉(WA)、棕剛玉(A)、鉻剛玉(PA)等氧化鋁基材料制品檢測,適用于砂輪、切割片等固結磨具的質量控制。
包括黑碳化硅(C)、綠碳化硅(GC)兩類產品檢測,重點監控游離硅含量(≤0.2%)及β-SiC相純度(≥98%)。
金剛石微粉需進行晶形完整度SEM分析及熱穩定性測試(800℃/30min失重率≤5%),立方氮化硼(CBN)需測定晶體棱角保持率。
陶瓷復合磨料需進行界面結合強度測試(≥150MPa),金屬包覆型磨料需測定鍍層厚度均勻性(±5μm)。
覆蓋塊狀原料、破碎顆粒、整形顆粒、鍍衣處理品等不同物理形態產品的差異化檢測方案制定。
依據ISO 13320標準配置濕法分散系統(介質為0.05%六偏磷酸鈉溶液),采用Mie散射理論計算粒徑分布譜圖。
建立標準樣品校準曲線(CRM編號GBW02711-GBW02715),采用FP法校正基體效應誤差。
使用場發射SEM(加速電壓15kV)配合能譜儀(EDS)進行微觀形貌觀測及元素面分布分析。
在氮氣保護氣氛下以10℃/min升溫至1200℃,測定金剛石微粉的氧化起始溫度及失重曲線。
采用40kHz超聲波清洗設備配合離心機(3000rpm)進行磁性物分離提取。
配備濕法進樣系統及超聲分散模塊(功率可調范圍30-100W),測量范圍0.02-2000μm。
配置Rh靶X光管(50kV/60mA)及SDD探測器(分辨率≤125eV),支持無標樣半定量分析。
配備自動轉塔式壓頭切換系統(HV/HK/HRA標尺),最大試驗力10kgf。
采用氦氣置換法原理(ASTM B923),測量腔體容積100cm3±0.01cm3。
-50℃至1000℃寬溫區測試能力(升溫速率0.1-20℃/min),分辨率0.05μm/m·℃。
配置石墨爐原子化器及背景校正系統(塞曼效應型),檢出限達ppb級。
1、咨詢:提品資料(說明書、規格書等)
2、確認檢測用途及項目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品,安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關數據,編寫報告草件,確認信息是否無誤
7、確認完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件