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X射線衍射分析檢測
X射線衍射分析是一種常用的材料分析技術，通過測定材料中晶體結構的方法來獲得材料的結晶信息。下面將介紹X射線衍射分析的檢測范圍、檢測項目分類、檢測方法和檢測儀器、以及其服務優勢。
檢測范圍
X射線衍射分析可用于晶體學分析、材料學研究、金屬學分析、化學分析、藥物結晶學、巖礦鑒定等領域。
檢測項目分類
1. 晶體結構分析
2. 晶體質量評定
3. 晶體取向測定
4. 晶粒度及晶體尺寸測定
檢測方法和檢測儀器
X射線衍射分析主要通過測定材料樣品散射X射線的特性來分析材料晶體結構。檢測儀器常見的有X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀等。
服務優勢
X射線衍射分析具有高精度、高靈敏度、非破壞性、樣品準備簡單等優勢，可為材料研究和質量控制提供可靠的數據支持。
綜上所述，X射線衍射分析作為一項重要的材料分析技術，具有廣泛的應用領域和準確的檢測結果，是現代科學研究和生產中不可或缺的一環。
X射線衍射分析檢測標準列舉
YB/T 172-2000 硅磚定量相分析 X射線衍射法Phase quantitative analysis of silica bricks -- X-ray diffraction method
YB/T 172-2000(2015) 硅磚定量相分析 X射線衍射法Phase quantitative analysis of silica bricks -- X-ray diffraction method
YB/T 172-2020 硅磚定量相分析 X射線衍射法
YS/T 1178-2017 鋁渣物相分析 X射線衍射法
JB/T 11144-2011 X射線衍射儀
JB/T 11144-2011(2017) X射線衍射儀X-ray diffractometer
GBZ 115-2002(2010) X射線衍射儀和熒光分析儀衛生防護標準
GBZ 115-2002(2013) X射線衍射儀和熒光分析儀衛生防護標準
GB/T 36923-2018 珍珠粉鑒別方法X射線衍射分析法
GB/T 30904-2014 無機化工產品 晶型結構分析 X射線衍射法
YB/T 5320-2006 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法Metal materials--Quantitative phase analysis--"Value K" method of X-ray diffraction
YB/T 5320-2006(2012) 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法Metal materials--Quantitative phase analysis--"Value K" method of X-ray diffraction
GB/T 40407-2021 硅酸鹽水泥熟料礦相X射線衍射分析方法X-ray powder diffraction analysis method for determining the phases in portland cement clinker
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YB/T 5336-2006 高速鋼中碳化物相的定量分析X射線衍射儀法Carbides in high speed steel--Quantitative phase analysis--Method of X-ray diffractometer
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